专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于SOT-MTJ的非易失布尔逻辑运算电路及方法-CN202111214354.2在审
  • 李锡铭;虞志益;金星;尹宁远 - 中山大学
  • 2021-10-19 - 2022-02-11 - H03K19/20
  • 本发明公开了一种基于SOT‑MTJ的非易失布尔逻辑运算电路,包括MTJ写电路模块、MTJ逻辑树模块和预充电放大器模块,所述MTJ写电路模块用于给各个所述SOT‑MTJ写入一个MTJ状态,所述MTJ状态包括平行态和反平行态;所述MTJ逻辑树模块用于根据所述MTJ状态控制各所述SOT‑MTJ连接成的电路的电阻值的大小;所述预充电放大器模块用于根据所述电阻值的大小,输出所述MTJ状态对应的布尔逻辑结果。本发明通过给MTJ逻辑树模块中的SOT‑MTJ写入MTJ状态,控制SOT‑MTJ的电阻值,根据SOT‑MTJ连接成的电路的电阻值的大小输出布尔逻辑结果,且SOT‑MTJ的电阻值不会因为掉电而丢失,实现了非易失的布尔逻辑;由于SOT‑MTJ的小尺寸设计,且兼容CMOS工艺,实现了小尺寸器件的存内计算架构。
  • 基于sotmtj非易失布尔逻辑运算电路方法
  • [发明专利]一种MTJ器件的制备方法-CN202010403414.4有效
  • 杨晓蕾;何世坤;罗飞龙 - 浙江驰拓科技有限公司
  • 2020-05-13 - 2022-06-28 - H01L43/12
  • 本发明公开了MTJ器件的制备方法,包括:预先根据MTJ器件对数据保持时长要求,确定MTJ器件的预期Hoffset值;按照MTJ器件工艺流程,完成MTJ器件的制备后,在预设温度环境中进行热处理;当MTJ器件热处理时长达到预期Hoffset值对应的预设热处理时长时,则对MTJ器件进行退火处理;其中,预设热处理时长为预期Hoffset值对应的MTJ器件的热处理时长。本申请中对MTJ器件的偏置场磁参数Hoffset值进行调节时,只需要对MTJ器件各个结构层形成后,进行热处理的时长进行合理控制,保证了MTJ器件在存储器等设备中的应用性能更为可靠。
  • 一种mtj器件制备方法
  • [发明专利]一种存储单元以及相关设备-CN202080102362.5在审
  • 秦青;周雪 - 华为技术有限公司
  • 2020-08-13 - 2023-02-14 - G11C11/16
  • 本申请实施例提供了一种存储单元以及相关设备,存储单元中包括的第一MTJ的第一电极通过第一金属线与第二MTJ的第一电极串联,第一MTJ的第一电极与第二MTJ的第一电极为同层电极。其中,不同方向以及不同大小的电流流经第一MTJ以及第二MTJ,会改变第一MTJ和/或第二MTJ的阻值状态。这样,便可以通过第一MTJ与第二MTJ不同阻值的组合实现多态存储,提升了存储器的存储效率。
  • 一种存储单元以及相关设备
  • [发明专利]一种基于MTJ的真随机数发生器-CN202110117458.5在审
  • 崔岩;罗军;杨美音;许静;张骥 - 广东省大湾区集成电路与系统应用研究院;中国科学院微电子研究所
  • 2021-01-28 - 2021-05-25 - G06F7/58
  • 本发明涉及PP板生产加工领域,公开了一种基于MTJ的真随机数发生器,包括至少一个逻辑单元,每个逻辑单元包括两个输入MTJ和一个输出MTJ,两个输入MTJ先并联,然后再与输出MTJ串联,再产生随机数前,使两个输入MTJ和输出MTJ的存储状态均为高阻态模式,确保电源在输出MTJ上的电压小于第一临界调控电压Vc1,在产生随机数时,改变两个输入MTJ中的至少一个输入MTJ的存储状态,使电源在输出MTJ上的电压大于第一临界调控电压Vc1,这样每当两输入MTJ中的一个存储状态发生变化时,输出MTJ的状态会随机想低阻态模式和高阻态模式变化,且概率均为二分之一,对输出MTJ的存储状态进行检测便可得到一位随机的二进制数据,整体结构简单,
  • 一种基于mtj随机数发生器
  • [发明专利]类脑计算系统及其突触-CN201610310747.6有效
  • 戴瑾 - 上海磁宇信息科技有限公司
  • 2016-05-11 - 2021-05-25 - G06N3/063
  • 一种类脑计算系统及其突触,所述突触为MTJ突触,其包括记忆MTJ和参考MTJMTJ突触的输出端连接到类脑计算系统中输入电荷的神经元,MTJ突触的输入端连接到类脑计算系统中输出电荷的神经元;MTJ突触的输出端被置于基准电位,记忆MTJ适于接收来自所述MTJ突触的输入端的第一脉冲,参考MTJ适于接收来自MTJ突触的输入端的第二脉冲,第一脉冲与第二脉冲同时发射,形状相同且符号相反;MTJ突触还包括与记忆MTJ相连的第一选通器件以及与参考MTJ相连的第二选通器件,分别设置于输出电荷的神经元与输入电荷的神经元之间的不同电流路径上,且两者导流方向相反。
  • 计算系统及其突触
  • [发明专利]半导体设备-CN201680034994.6有效
  • 宇佐美公良;工藤优 - 索尼公司
  • 2016-06-09 - 2021-08-13 - G11C11/15
  • 写入控制电路34存储与存储在MTJ元件MTJ1、MTJ2中的数据相同的数据。当将由从锁存器32保持的数据存储在MTJ元件MTJ1、MTJ2中时,写入控制电路34进行控制以通过将存储在其中的数据与由从锁存器32保持的数据进行比较来确定是否将由从锁存器32保持的数据写入到MTJ元件MTJ1、MTJ2。当存储在其中的数据与由从锁存器32保持的数据相匹配时,写入控制电路34进行控制以确定不将数据写入到MTJ元件MTJ1、MTJ2中。
  • 半导体设备
  • [发明专利]一种磁隧道结(MTJ)器件及其制造方法-CN201780048801.7有效
  • 朴禅度;J·J·坎;康相赫 - 高通股份有限公司
  • 2017-07-20 - 2023-01-17 - H10N50/10
  • 公开的各方面包括减少或避免来自蚀刻磁隧道结(MTJ)器件的金属沉积。在一个示例中,MTJ器件的底部电极的宽度被设置为小于MTJ器件的MTJ堆叠的宽度。以这种方式,可以减少或避免底部电极的蚀刻以减少或避免由于过蚀刻MTJ器件而导致的金属再沉积以避免相邻器件之间的水平短路。在另一示例中,种子层嵌入MTJ器件的底部电极中。以这种方式,MTJ堆叠的高度减小以减少或避免由于过蚀刻MTJ器件而导致的金属再沉积。在另一示例中,MTJ器件包括底部电极中的具有的宽度也小于MTJ堆叠的宽度的嵌入种子层。
  • 一种隧道mtj器件及其制造方法

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